| Název: | Multi-criteria optimization of quality and reliability providing processes of electronic devices |
| Autoři: | Bobalo, Jury Nedostup, Leonid Kiselychnyk, Myroslav Melen, Myhaylo Zayarnyuk, Pavlo |
| Citace zdrojového dokumentu: | CPEE – AMTEE 2013: Joint conference Computational Problems of Electrical Engineering and Advanced Methods of the Theory of Electrical Engineering: 4th – 6th September 2013 Roztoky u Křivoklátu, Czech Republic, p. V-4. |
| Datum vydání: | 2013 |
| Nakladatel: | University of West Bohemia |
| Typ dokumentu: | článek konferenční příspěvek article conferenceObject |
| URI: | http://hdl.handle.net/11025/11575 |
| ISBN: | 978-80-261-0247-2 |
| Klíčová slova: | elektronické zařízení;optimalizace výroby;technologické procesy |
| Klíčová slova v dalším jazyce: | electronic device;manufacturing optimization;technological processes |
| Abstrakt: | This paper describes the method of electronic devices manufacturing optimization by technical and economic criteria. |
| Práva: | © University of West Bohemia |
| Vyskytuje se v kolekcích: | CPEE – AMTEE 2013 CPEE – AMTEE 2013 |
Soubory připojené k záznamu:
| Soubor | Popis | Velikost | Formát | |
|---|---|---|---|---|
| Bobalo.pdf | Plný text | 118,79 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/11575Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.