Title: Hodnocení změn v povrchových vrstvách materiálů a vybraných systémů s tenkými vrstvami po tepelném zatížení
Other Titles: Evaluation of changes in surface layers and selected thin film systems after thermal degradation
Authors: Čechal, Stanislav
Advisor: Štěpánek Ivo, RNDr.
Referee: Bláhová Olga, Doc. Ing. Ph.D.
Issue Date: 2016
Publisher: Západočeská univerzita v Plzni
Document type: bakalářská práce
URI: http://hdl.handle.net/11025/25236
Keywords: tepelná degradace;atmosférická koroze;tenké vrstvy;pvd;capd;vrypová indentace;nanoindentace;akustická emise;tin;tialn
Keywords in different language: thermal degradation;atmospheric corrosion;thin films;pvd;capd;scratch test;nanoindentation;acustic emission;tin;tialn
Abstract: Předmětem této bakalářské práce je zkoumat vliv tepelné degradace za současného působení atmosférické koroze na vybrané systémy s tenkými vrstvami, vytvořenými metodou nízkonapěťového reaktivního obloukového odpařování ve vakuu. Provedení tepelně zátěžných cyklů a následně měření a vyhodnocení měření pomocí různých analytických metod. Poznatky z této práce budou využity pro reálné aplikování v praxi.
Abstract in different language: This bachelor thesis deals with influence of thermal degradation with simoultaneous effect of atmospheric corrosion of thin film systems, created by cathodic arc plasma deposition. Goal of this thesis is to do thermal degradation then do analysis of samples and compare the results for using in real applications
Rights: Plný text práce je přístupný bez omezení.
Appears in Collections:Bakalářské práce / Bachelor´s works (KMM)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Bakalarka_Cechal_2016.pdfPlný text práce49,26 MBAdobe PDFView/Open
Hodnoceni_Cechal.pdfPosudek vedoucího práce632,68 kBAdobe PDFView/Open
OP_Cechal.pdfPosudek oponenta práce383,36 kBAdobe PDFView/Open
Prubeh_Cechal.pdfPrůběh obhajoby práce289,96 kBAdobe PDFView/Open


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11025/25236

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.