Název: Method for qualification cleaning of electronic assemblies, validation of process changes in cleaning process
Autoři: Sítko, Vladimír
Citace zdrojového dokumentu: Electroscope. 2017, č. 1.
Datum vydání: 2018
Nakladatel: Západočeská univerzita v Plzni
Typ dokumentu: článek
article
URI: http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2018/Cislo1_2018/r12c1c6.pdf
http://hdl.handle.net/11025/31001
ISSN: 1802-4564
Klíčová slova: elektronické sestavy;čistící proces;optické měření;měření iontové kontaminace
Klíčová slova v dalším jazyce: electronic assemblies;cleaning process;optical measurement;ionic contamination measurement
Abstrakt v dalším jazyce: The described experiment was designed to verify and demonstrate current situation in determining cleanliness of electronic assemblies with leadless and high dense components. We have compared the historically introduced method of ionic contamination measuring with new optical method of determining flux residues under component with very thin gap. It should be interpreted as a confirmation of just released Addendum of IPC J STD 001 standard, which definitely state, that ionic contamination measurement ( ROSE method) cannot give an objective evidence of cleanliness of SMT electronic assembly and prediction of reliability.
Práva: Copyright © 2018 Electroscope. All Rights Reserved.
Vyskytuje se v kolekcích:Číslo 1 (2018)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
r12c1c6.pdfPlný text735,58 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/31001

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.