Full metadata record
DC poleHodnotaJazyk
dc.contributor.authorHofmann, Gerhard
dc.contributor.authorGeorgiev, Vjačeslav
dc.contributor.editorPinker, Jiří
dc.date.accessioned2019-10-08T08:25:22Z
dc.date.available2019-10-08T08:25:22Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citation2016 International Conference on Applied Electronics: Pilsen, 6th – 7th September 2016, Czech Republic, p.89-92.en
dc.identifier.isbn978–80–261–0601–2 (Print)
dc.identifier.isbn978–80–261–0602–9 (Online)
dc.identifier.issn1803–7232 (Print)
dc.identifier.issn1805–9597 (Online)
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/35195
dc.format4 s.cs
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoenen
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plznics
dc.rights© Západočeská univerzita v Plznics
dc.subjectstárnutícs
dc.subjectrezistorcs
dc.subjectmodelování integrovaných obvodůcs
dc.subjectmatematický modelcs
dc.subjectvýpočetní modelovánícs
dc.subjectknihovnycs
dc.titleUsing VHDL-AMS to simulate aging behavior of electronic componentsen
dc.typekonferenční příspěvekcs
dc.typeconferenceObjecten
dc.rights.accessopenAccessen
dc.type.versionpublishedVersionen
dc.description.abstract-translatedReliability of electronics is in the automotive industry very important. The average age of cars in Germany was 9 years at 2015.i Normally the life time is evaluated by the environmental test according ISO 16750. The content of this paper is to contribute that computer simulation of aging is a possible way to evaluate electronic circuits in the define phase. For this reason a VHDL-AMS simulation models is used to model aging behavior of a resistor.en
dc.subject.translatedagingen
dc.subject.translatedresistorsen
dc.subject.translatedintegrated circuit modelingen
dc.subject.translatedmathematical modelen
dc.subject.translatedSPICEen
dc.subject.translatedcomputational modelingen
dc.subject.translatedlibrariesen
dc.type.statusPeer-revieweden
Vyskytuje se v kolekcích:Články / Articles (KAE)
Applied Electronics 2016
Applied Electronics 2016

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
Hofmann.pdfPlný text268,04 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/35195

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.