| Název: | Structural analysis of Ni-doped SrTiO3: XRD study |
| Další názvy: | Strukturní analýza niklem dopovaného SrTiO3 pomocí rentgenové difrakce |
| Autoři: | Jansa, Zdeněk Prušáková, Lucie Alarab, Fatima Šutta, Pavol Minár, Jan |
| Citace zdrojového dokumentu: | JANSA, Z., PRUŠÁKOVÁ, L., ALARAB, F., ŠUTTA, P., MINÁR, J. Structural analysis of Ni-doped SrTiO3: XRD study. In: APCOM 2019 � Applied physics of condensed matter. Bratislava: American Institute of Physics Inc., 2019. ISBN 978-0-7354-1873-8 , ISSN 0094-243X. |
| Datum vydání: | 2019 |
| Nakladatel: | American Institute of Physics Inc. |
| Typ dokumentu: | konferenční příspěvek conferenceObject |
| URI: | 2-s2.0-85070536071 http://hdl.handle.net/11025/36459 |
| ISBN: | 978-0-7354-1873-8 |
| ISSN: | 0094-243X |
| Klíčová slova: | Perovskit;rentgenová difrakce;tenké vrstvy;strukturní analýza |
| Klíčová slova v dalším jazyce: | Perovskit;XRD diffraction;thin layers;tructural analysis |
| Abstrakt: | Náplní této práce je studium struktutry niklem dopovaného SrTiO3 pomocí rentgenové difrakce. Všechny vzorky byly připravené pomocí magnetronového naprašování na Si a SiO2 subrstrát. Hlavním cílem práce bylo monitorování krystalizace deponovaných vrstev SrTiO3 dopovaných niklem. RTG měření bylo provedeno na vzorcích v původnímdeponovaném stavu a ve stavu po vyžíhání ve vakuu při teplotě 900 °C. Rentgenová analýza byla provedena pomocí obou geometrií (symetrické i asymetrické). Tato měření poskytla informace o vlivu niklu na finální strukturu, velikost krystalitů, mikronapětí a deformaci mřížky. Zejména je demonstrován vliv niklu na krystalizaci SrTiO3 v porovnání s nedopovaným SrTiO3. |
| Abstrakt v dalším jazyce: | The aim of this work is to study the structure of Ni-doped SrTiO3 thin films by X-ray diffraction (XRD). All samples were prepared by magnetron sputtering on Si and SiO2 substrates. The main objective of this work is to monitor the crystallization of the deposited thin layer of Ni-doped SrTiO3. The X-ray diffraction measurements were done on the films as deposited and after annealing in vacuum up to 900°C. The x-ray analysis was used with both geometries (symmetric and asymmetric). Those measurements allow us to get information about the influence of Ni on the final structure, the size of crystallites, the micro-strains and the deformation of the lattice. In particular, here we demonstrate that Ni doping lead to the unique stabilisation of crystall growth of SrTiO3 as compared to the undoped SrTiO3. |
| Práva: | © American Institute of Physics Inc. |
| Vyskytuje se v kolekcích: | Konferenční příspěvky / Conference papers (RAM) OBD |
Soubory připojené k záznamu:
| Soubor | Velikost | Formát | |
|---|---|---|---|
| JANSA_XRD analysis of Ni-doped SrTiO3.pdf | 636,01 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/36459Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.