Full metadata record
DC poleHodnotaJazyk
dc.contributor.authorJansa, Zdeněk
dc.contributor.authorPrušáková, Lucie
dc.contributor.authorAlarab, Fatima
dc.contributor.authorŠutta, Pavol
dc.contributor.authorMinár, Jan
dc.date.accessioned2020-02-10T11:00:22Z-
dc.date.available2020-02-10T11:00:22Z-
dc.date.issued2019
dc.identifier.citationJANSA, Z., PRUŠÁKOVÁ, L., ALARAB, F., ŠUTTA, P., MINÁR, J. Structural analysis of Ni-doped SrTiO3: XRD study. In: APCOM 2019 � Applied physics of condensed matter. Bratislava: American Institute of Physics Inc., 2019. ISBN 978-0-7354-1873-8 , ISSN 0094-243X.en
dc.identifier.isbn978-0-7354-1873-8
dc.identifier.issn0094-243X
dc.identifier.uri2-s2.0-85070536071
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/36459
dc.description.abstractNáplní této práce je studium struktutry niklem dopovaného SrTiO3 pomocí rentgenové difrakce. Všechny vzorky byly připravené pomocí magnetronového naprašování na Si a SiO2 subrstrát. Hlavním cílem práce bylo monitorování krystalizace deponovaných vrstev SrTiO3 dopovaných niklem. RTG měření bylo provedeno na vzorcích v původnímdeponovaném stavu a ve stavu po vyžíhání ve vakuu při teplotě 900 °C. Rentgenová analýza byla provedena pomocí obou geometrií (symetrické i asymetrické). Tato měření poskytla informace o vlivu niklu na finální strukturu, velikost krystalitů, mikronapětí a deformaci mřížky. Zejména je demonstrován vliv niklu na krystalizaci SrTiO3 v porovnání s nedopovaným SrTiO3.cs
dc.format5 s.cs
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoenen
dc.publisherAmerican Institute of Physics Inc.en
dc.rights© American Institute of Physics Inc.en
dc.subjectPerovskitcs
dc.subjectrentgenová difrakcecs
dc.subjecttenké vrstvycs
dc.subjectstrukturní analýzacs
dc.titleStructural analysis of Ni-doped SrTiO3: XRD studyen
dc.title.alternativeStrukturní analýza niklem dopovaného SrTiO3 pomocí rentgenové difrakcecs
dc.typekonferenční příspěvekcs
dc.typeconferenceObjecten
dc.rights.accessopenAccessen
dc.type.versionpublishedVersionen
dc.description.abstract-translatedThe aim of this work is to study the structure of Ni-doped SrTiO3 thin films by X-ray diffraction (XRD). All samples were prepared by magnetron sputtering on Si and SiO2 substrates. The main objective of this work is to monitor the crystallization of the deposited thin layer of Ni-doped SrTiO3. The X-ray diffraction measurements were done on the films as deposited and after annealing in vacuum up to 900°C. The x-ray analysis was used with both geometries (symmetric and asymmetric). Those measurements allow us to get information about the influence of Ni on the final structure, the size of crystallites, the micro-strains and the deformation of the lattice. In particular, here we demonstrate that Ni doping lead to the unique stabilisation of crystall growth of SrTiO3 as compared to the undoped SrTiO3.en
dc.subject.translatedPerovskiten
dc.subject.translatedXRD diffractionen
dc.subject.translatedthin layersen
dc.subject.translatedtructural analysisen
dc.identifier.doi10.1063/1.5119475
dc.type.statusPeer-revieweden
dc.identifier.obd43928627
dc.project.IDEF15_003/0000358/Výpočetní a experimentální design pokročilých materiálů s novými funkcionalitamics
Vyskytuje se v kolekcích:Konferenční příspěvky / Conference papers (RAM)
OBD

Soubory připojené k záznamu:
Soubor VelikostFormát 
JANSA_XRD analysis of Ni-doped SrTiO3.pdf636,01 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
Zobrazit minimální záznam Zobrazit statistiky


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/36459

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.

hledání
navigace
  1. DSpace at University of West Bohemia
  2. Publikační činnost / Publications
  3. OBD