Název: The Possibility of Capturing Shock Waves by Computer Simulation in Environmental Scanning Electron Microscope
Autoři: Vyroubal, Petr
Citace zdrojového dokumentu: Electroscope. 2013, č. 5, EEICT + EDS.
Datum vydání: 18-lis-2013
Nakladatel: Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická
Typ dokumentu: article
článek
URI: http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2013/Cislo5_2013/r7c5c3.pdf
http://hdl.handle.net/11025/6619
ISSN: 1802-4564
Klíčová slova: rázová vlna;scintilační detektor;mikroskopické metody;environmentální rastrovací elektronový mikroskop;počítačová simulace
Klíčová slova v dalším jazyce: shock wave;scintilation detector;microscopic methods;environmental scanning electron microscope;computer simulation
Abstrakt: Environmental scanning electron microscope (ESEM) is one of the latest trends in microscopic methods. In this microscope, we can observe various types of specimens, especially non-conductive and wet specimens. This is given by high pressure of gas in the specimen chamber. The evaluation of pressure on the secondary electrons trajectory is one of the important parameter in design of scintillation detector of secondary electrons. This article deals with computational modelling of pressure conditions and shock waves generation in the scintillation detector of secondary electrons for this type of microscope.
Práva: © 2013 Electroscope. All rights reserved.
Vyskytuje se v kolekcích:Číslo 5 (2013)
Číslo 5 (2013)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
r7c5c3.pdfPlný text363,04 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/6619

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.