Full metadata record
DC poleHodnotaJazyk
dc.contributor.advisorPanc, Tomáš
dc.contributor.advisorPanc, Tomáš
dc.contributor.authorPatera, David
dc.contributor.refereeKupka, Lukáš
dc.date.accepted2013-09-03
dc.date.accessioned2014-02-06T12:39:05Z
dc.date.available2012-10-15cs
dc.date.available2014-02-06T12:39:05Z
dc.date.issued2013
dc.date.submitted2013-06-07
dc.identifier53492
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/8249
dc.description.abstractKompaktní tester elektronických součástek. Tato bakalářská práce se zabývá návrhem a realizací mikroprocesorového testeru. V první části práce jsou uvedeny principy měření základních součástek pomocí mikrokontrolérů. Další část práce popisuje hardware navrženého prototypu, vybrané způsoby měření a software řídícího mikrokontroléru. Následuje měření parametrů navrženého prototypu a vyhodnocení výsledků. Na konec je prototyp srovnán s podobnými zařízeními a také jsou navržena vylepšení do budoucna. Závěr práce je zaměřen na zhodnocení dosažených parametrů prototypu a odůvodnění některých nedostatků.cs
dc.format35 s. (42 788 znaků)cs
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isocscs
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plznics
dc.rightsPlný text práce je přístupný bez omezení.cs
dc.subjectmikrokontrolércs
dc.subjectmikroprocesorcs
dc.subjectAVRcs
dc.subjectATmega32cs
dc.subjecttestercs
dc.subjectměřenícs
dc.subjectindukčnostics
dc.subjectkondenzátorcs
dc.subjectrezistorycs
dc.subjectdiodacs
dc.subjecttranzistorycs
dc.titleKompaktní tester elektronických součástekcs
dc.title.alternativeCompact tester of electronic componentsen
dc.typebakalářská prácecs
dc.thesis.degree-nameBc.cs
dc.thesis.degree-levelBakalářskýcs
dc.thesis.degree-grantorZápadočeská univerzita v Plzni. Fakulta elektrotechnickács
dc.description.departmentKatedra aplikované elektroniky a telekomunikacícs
dc.thesis.degree-programElektrotechnika a informatikacs
dc.description.resultObhájenocs
dc.rights.accessopenAccessen
dc.description.abstract-translatedCompact tester of electronic components. This thesis deals with design and realization of the microprocessor tester. The first part outlines the basic principles of measurement using microcontrollers. The next part describes hardware of the designed prototype, chosen measurement methods and the software of the microcontroller. The parameters of the designed prototype were measured in lab and the results evaluated. At the end is the prototype compared with similar devices and also there are some proposed improvements for the future. End of this work focuses on an evaluation of the of the prototype parameters and justification of the shortcomings.en
dc.subject.translatedmicrocontrolleren
dc.subject.translatedmicroprocessoren
dc.subject.translatedAVRen
dc.subject.translatedATmega32en
dc.subject.translatedtesteren
dc.subject.translatedmeasurementen
dc.subject.translatedchokesen
dc.subject.translatedcapacitoren
dc.subject.translatedresistorsen
dc.subject.translateddiodeen
dc.subject.translatedtransistorsen
Vyskytuje se v kolekcích:Bakalářské práce / Bachelor´s works (KAE)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
David_Patera_BP.pdfPlný text práce1,17 MBAdobe PDFZobrazit/otevřít
053492_vedouci.pdfPosudek vedoucího práce416,75 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
053492_oponent.pdfPosudek oponenta práce456,86 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
053492_hodnoceni.pdfPrůběh obhajoby práce190,4 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
Zobrazit minimální záznam Zobrazit statistiky


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/8249

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.

hledání
navigace
  1. DSpace at University of West Bohemia
  2. Vysokoškolské kvalifikační práce / Theses
  3. Fakulta elektrotechnická / Faculty of Electrical Engineering
  4. Katedra aplikované elektroniky a telekomunikací / Department of Applied Electronics and Telecommunications
  5. Bakalářské práce / Bachelor´s works (KAE)