Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorDudáček, Karel-
dc.date.accessioned2020-03-23T11:00:25Z-
dc.date.available2020-03-23T11:00:25Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationDUDÁČEK, K. Non-uniform sampling using synchronised ADCs. In: XXVII International Conference on Information, Communication and Automation Technologies (ICAT). Danvers: IEEE, 2019. s. 1-6. ISBN 978-1-72814-543-3 , ISSN 2643-1858.en
dc.identifier.isbn978-1-72814-543-3-
dc.identifier.issn2643-1858-
dc.identifier.uri2-s2.0-85078276709-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/36731-
dc.description.abstractSome microcontrollers of the STM32 family are equipped with two or three synchronised ADCs. Non-uniform sampling could be utilized for increasing an unaliased signal bandwidth, that could be processed by these microcontrollers. In this paper, conversion timing was studied, and non-uniform sam- pling function proposed in order to exploit the ADC as most as possible. It was found that attenuation of a sample&hold circuit limits an input bandwidth earlier than aliasing, nevertheless, it is still significantly wider bandwidth than an unaliased bandwidth without usage of non-uniform sampling.en
dc.description.abstractNěkteré mikrokontroléry typu STM32 jsou vybaveny dvěmi nebo třemi AD převodníky. Pro rozšíření šířky pásma signálu, který je možné zpracovávat těmito mikrokontroléry může být použito neekvidistantní vzorkování. V tomto článku je analyzováno časování AD převodníků v mikrokontroléru a je navržena vzorkovací funkce, která je umožňuje využít co nejefektivněji. Zjistili jsme, že při použití neekvidistantního vzorkování omezuje útlum vzorkovacího obvodu (sample&hold) šířku pásma dříve než aliasing. Nicméně i tato šířka pásma je stále větší než šířka pásma bez použití neekvidistantního vzorkování.cs
dc.format6 s.cs
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoenen
dc.publisherIEEEen
dc.relation.ispartofseriesXXVII International Conference on Information, Communication and Automation Technologies (ICAT)en
dc.rightsPlný text je přístupný v rámci univerzity přihlášeným uživatelům.cs
dc.rights© IEEEen
dc.subjectneekvidistantní vzorkovánícs
dc.subjectAD převodníkcs
dc.subjectmikrokontrolércs
dc.subjectfrekvenční charakteristikacs
dc.titleNon-uniform sampling using synchronised ADCsen
dc.title.alternativeNeekvidistantní vzorkování s použitím synchronizovaných AD převodníků.cs
dc.typekonferenční příspěvekcs
dc.typeconferenceObjecten
dc.rights.accessrestrictedAccessen
dc.type.versionpublishedVersionen
dc.subject.translatedNonuniform samplingen
dc.subject.translatedanalog-digital conversionen
dc.subject.translatedmicrocontrollersen
dc.subject.translatedfrequency responseen
dc.identifier.doi10.1109/ICAT47117.2019.8938958-
dc.type.statusPeer-revieweden
dc.identifier.obd43928482-
Appears in Collections:Konferenční příspěvky / Conference Papers (KIV)
OBD

Files in This Item:
File SizeFormat 
Dudáček ICAT-clanek.pdf4,48 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11025/36731

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

search
navigation
  1. DSpace at University of West Bohemia
  2. Publikační činnost / Publications
  3. OBD