Název: Aspekty měření šumu 1/f výkonových polovodičových prvků
Autoři: Hájek, Jiří
Papež, Václav
Citace zdrojového dokumentu: Electroscope, 2011, č. 5, Diagnostika'11.
Datum vydání: 2-pro-2011
Nakladatel: Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická
Typ dokumentu: article
conferenceObject
článek
konferenční příspěvek
URI: http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2011/Cislo5_2011/r5c5c2.pdf
http://hdl.handle.net/11025/654
ISSN: 1802-4564
Klíčová slova: polovodičové prvky;proudový šum;elektrická měření
Klíčová slova v dalším jazyce: semiconductor devices;current noise;electrical measurements
Abstrakt: Jedním z hlavních znaků jakosti elektrotechnických součástek je úroveň proudového šumu. U pasivních prvků je šum přímo měřítkem kvality a stárnutím se může výrazně měnit. Měřením šumu tak lze předpovídat dobu života nebo pravděpodobnost poruchy. V případě polovodičů je proudový šum měřítkem kvality výroby či použité technologie. Na rozdíl od pasivních součástek není vliv stárnutí polovodičových prvků na šum tak výrazný. Šum však lze využít k detekci skrytých vad VA charakteristik, které se obtížně zjišťují běžnými měřeními. Na rozdíl od měření elektrických parametrů vyžaduje měření šumu dokonalé přizpůsobení měřicího obvodu k měřené součástce. Použité přístroje a zapojení výrazně ovlivňují výsledek měření.
Práva: © 2011 Electroscope. All rights reserved.
Vyskytuje se v kolekcích:Číslo 5 - Diagnostika (2011)
Číslo 5 - Diagnostika (2011)
Články / Articles (FEL)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
r5c5c2.pdf516,53 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/654

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.