Název: Evaluation of the functional suitability of the device considering the technological parameters of random deviations from the nominal component aging processes
Autoři: Stakhiv, Petro
Krepych, Svitlana
Bobalo, Yuriy
Citace zdrojového dokumentu: CPEE – AMTEE 2013: Joint conference Computational Problems of Electrical Engineering and Advanced Methods of the Theory of Electrical Engineering: 4th – 6th September 2013 Roztoky u Křivoklátu, Czech Republic, p. VII-5.
Datum vydání: 2013
Nakladatel: University of West Bohemia
Typ dokumentu: článek
konferenční příspěvek
article
conferenceObject
URI: http://hdl.handle.net/11025/11559
ISBN: 978-80-261-0247-2
Klíčová slova: elektrická zařízení;procesy stárnutí;funkční vhodnost zařízení
Klíčová slova v dalším jazyce: electric devices;aging processes;functional device suitability
Abstrakt: One of the main parameters of the device is its functional suitability. During operation device components under environmental change their parameters, ie, the process of aging. Under these conditions, there is a problem of evaluating functional fitness device taking into account the real processes of aging.
Práva: © University of West Bohemia
Vyskytuje se v kolekcích:CPEE – AMTEE 2013
CPEE – AMTEE 2013

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
Stakhiv.pdfPlný text119,07 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/11625

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.