Full metadata record
DC poleHodnotaJazyk
dc.contributor.advisorHromadka, Karel
dc.contributor.authorZáruba, Jan
dc.contributor.refereeRendl, Karel
dc.date.accepted2012-06-26
dc.date.accessioned2013-06-19T07:02:11Z
dc.date.available2011-10-17cs
dc.date.available2013-06-19T07:02:11Z
dc.date.issued2012
dc.date.submitted2012-06-06
dc.identifier47389
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/4711
dc.description.abstractBakalářská práce se zabývá problematikou automatizovaného měření voltampérových charakteristik tranzistorů. V teoretické části jsou popsány parametry a vlastnostmi tranzistorů a popisuje vývojové prostředí LabVIEW. Pro účely měření byla použita multifunkční měřicí karta NI USB-6008/6009 od společnosti National Instruments. Softwarová část byla zpracována ve vývojovém prostředí LabVIEW. Výsledky práce již byly využity pro automatizaci laboratorní úlohy v předmětu Speciální součástky pro elektroniku.cs
dc.format42 s., 10 s. Přílohcs
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isocscs
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plznics
dc.rightsPlný text práce je přístupný bez omezení.cs
dc.subjecttranzistorycs
dc.subjectstatické charakteristikycs
dc.subjectLabViewcs
dc.subjectNational instrumentscs
dc.subjectDQAcs
dc.subjectautomatizované měřenícs
dc.titleAutomatizované měření voltampérových charakteristik tranzistorů pomocí LabVIEWcs
dc.title.alternativeAutomated measurement of volt-amps characteristics of transistors with LabVIEWen
dc.typebakalářská prácecs
dc.thesis.degree-nameBc.cs
dc.thesis.degree-levelBakalářskýcs
dc.thesis.degree-grantorZápadočeská univerzita v Plzni. Fakulta elektrotechnickács
dc.description.departmentKatedra technologií a měřenícs
dc.thesis.degree-programElektrotechnika a informatikacs
dc.description.resultObhájenocs
dc.rights.accessopenAccessen
dc.description.abstract-translatedThis undergraduate thesis deals with the issues of automatic measurement of transistor voltamp characteristics. The theoretical part focuses on the basic parameters and qualities of transistors and describes the LabVIEW Development interface. The multi-purpose measuring card NI USB-6008/6009 has been utilized for the purposes of measurement. The software part was processed in the Development Interface LabVIEW. The results of the thesis have already been used for the automation during the lab assignment in the subject Special Spare Parts for Electronics.en
dc.subject.translatedtransistoren
dc.subject.translatedstatic characteristicen
dc.subject.translatedLabViewen
dc.subject.translatedNational instrumentsen
dc.subject.translatedDQAen
dc.subject.translatedautomated measurementen
Vyskytuje se v kolekcích:Bakalářské práce / Bachelor´s work (KET)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
Zaruba_Jan.pdfPlný text práce2,32 MBAdobe PDFZobrazit/otevřít
047389_vedouci.pdfPosudek vedoucího práce337,76 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
047389_oponent.pdfPosudek oponenta práce357,61 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
047389_hodnoceni.pdfPrůběh obhajoby práce134,91 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
Zobrazit minimální záznam Zobrazit statistiky


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/4711

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.

hledání
navigace
  1. DSpace at University of West Bohemia
  2. Vysokoškolské kvalifikační práce / Theses
  3. Fakulta elektrotechnická / Faculty of Electrical Engineering
  4. Katedra technologií a měření / Department of Technologies and Measurement
  5. Bakalářské práce / Bachelor´s work (KET)