Title: Tavidla pro bezolovnaté pájení a jejich vliv na spolehlivost
Other Titles: Fluxes for lead-free soldering and their reliability impacts
Authors: Grametbauer, Michal
Advisor: Steiner, František
Referee: Rendl, Karel
Issue Date: 2014
Publisher: Západočeská univerzita v Plzni
Document type: diplomová práce
URI: http://hdl.handle.net/11025/12397
Keywords: tavidla;iontová kontaminace;povrchový izolační odpor;kalafuna
Keywords in different language: flux;contamination;surface insulation resistivity;rosin
Abstract: Předkládaná diplomová práce se zabývá problematikou tavidel a jejích vlivů na spolehlivost desky plošných spojů. V úvodních kapitolách jsou vysvětleny základní pojmy týkající se kontaminace a tavidel. Dále jsou popsány normy a testovací metody pro posouzení povrchového izolačního odporu a iontové kontaminace desky plošných spojů. V další části jsou realizované experimenty pro testování povrchového izolačního odporu a iontové kontaminace DPS pro různá tavidla a různé přetavovací teploty. V závěrečné části jsou vyhodnoceny výsledky experimentů.
Abstract in different language: This diploma thesis deals with fluxes and their effect on the reliability of the printed circuit boards. The initial chapters explain the basic concepts related to contamination and fluxes. Next part describes the standards and test methods for the assessment of surface insulation resistance and ion contamination of the PCB. The other parts are realized experiments to test the insulation resistance and surface contamination of PCB for various fluxes and different remelting temperatures. The final section analyzes the results of experiments.
Rights: Plný text práce je přístupný bez omezení.
Appears in Collections:Diplomové práce / Theses (KET)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Michal Grametbauer.pdfPlný text práce4,06 MBAdobe PDFView/Open
058639_vedouci.pdfPosudek vedoucího práce353,89 kBAdobe PDFView/Open
058639_oponent.pdfPosudek oponenta práce351,52 kBAdobe PDFView/Open
058639_hodnoceni.pdfPrůběh obhajoby práce160,58 kBAdobe PDFView/Open


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11025/12397

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.