Full metadata record
DC poleHodnotaJazyk
dc.contributor.advisorRezek Jiří, Ing. Ph.D.
dc.contributor.authorPolák, Michal
dc.contributor.refereeRusňák Karel, Doc. RNDr. CSc.
dc.date.accepted2024-6-21
dc.date.accessioned2024-07-12T09:15:39Z-
dc.date.available2023-10-15
dc.date.available2024-07-12T09:15:39Z-
dc.date.issued2024
dc.date.submitted2024-5-30
dc.identifier97093
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11025/57323-
dc.description.abstractTato bakalářská práce se zabývá zkoumáním optických a strukturních vlastností transparentních vodivých oxidů (TCO; transparent conductive oxides), specificky oxidů mědi dopovaných dusíkem. Jsou vysvětleny základy problematiky TCO a metody měření vlastností těchto materiálů, konkrétně elipsometrie a Ramanova spektroskopie. Tyto metody jsou použity na změření vlastností vzorků tenkých vrstev Cu\dindex{2}O dopovaných dusíkem, vyrobených reaktivním magnetronovým naprašováním při rozdílných vstupních podmínkách (teplota výroby, průtok reaktivního plynu). Pro práci jsou důležité primárně hodnoty indexu lomu vrstev, extinkčního koeficientu, šířky zakázaného pásu, a polohy píků Ramanova spektra vzorků, to vše v závislosti na energii světla interagujícího s tenkou vrstvou. Různé podmínky výroby materiálu mohou měnit vnitřní strukturu vrstvy a tím průběh výsledných závislostí zkoumaných parametrů. Jsou porovnávány zjištěné hodnoty všech veličin a změny vlastností v závislosti na výrobních podmínkách, mezi sebou i s dalšími pracemi publikovanými o podobných materiálech.cs
dc.format37 s.
dc.language.isocs
dc.publisherZápadočeská univerzita v Plzni
dc.rightsPlný text práce je přístupný bez omezení
dc.subjecttcocs
dc.subjecttransparentní vodivé oxidycs
dc.subjectcu2ocs
dc.subjectreaktivní magnetronové naprašovánícs
dc.subjectelipsometriecs
dc.subjectramanova spektroskopiecs
dc.titleVyšetřování optických a strukturních vlastností tenkých vrstev Cu\dindex{2}O dopovaných dusíkemcs
dc.typebakalářská práce
dc.thesis.degree-nameBc.
dc.thesis.degree-levelBakalářský
dc.thesis.degree-grantorZápadočeská univerzita v Plzni. Fakulta aplikovaných věd
dc.thesis.degree-programAplikovaná fyzika a fyzikální inženýrství
dc.description.resultObhájeno
dc.description.abstract-translatedThis bachelor thesis examines optical and structural properties of transparent conductive oxides (TCO), particularly copper oxides enhanced with nitrogen atoms. Basics of TCO theory and techniques for measuring their parameters are explained, specifically ellipsometry and Raman spectroscopy. Those are then used to measure the properties of thin film samples of nitrogen enhanced Cu\dindex{2}O, created by reactive magnetron sputtering with several different manufacturing conditions (temperature, reactive gas flow rate). The most important parameters for this work are the refraction index, extinction coefficient, band gap energy and Raman peaks, with everything depending on the energy of the light interacting with the used thin film. Different manufacturing conditions can produce a difference in the inner structure of the film and thus change the functions of the examined parameters. The measured data and their potential differences are analyzed and compared between both the different samples and potential literature covering similar materials.en
dc.subject.translatedtcoen
dc.subject.translatedtransparent conductive oxidesen
dc.subject.translatedcu2oen
dc.subject.translatedreactive magnetron sputteringen
dc.subject.translatedellipsometryen
dc.subject.translatedraman spectroscopyen
Vyskytuje se v kolekcích:Bakalářské práce / Bachelor´s works (KFY)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
Bc_prace_Polak.pdfPlný text práce3,31 MBAdobe PDFZobrazit/otevřít
BP_Polak_vedouci.pdfPosudek vedoucího práce43,32 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
BP_Polak_oponent.pdfPosudek oponenta práce429,47 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít
ProtokolSPrubehemObhajobySTAG.pdfPrůběh obhajoby práce38,18 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/57323

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.